Сторожик Д. Прилад для контролю чистоти поверхні

Метою даного дипломного проекту є розробка приладу для контролю чистоти поверхні, що може застосовуватися для аналізу ступеня плівкового органічного забруднення методом флуоресценції.

Робота цього приладу заснована на властивості органічних речовин флуоресціювати, тобто випромінювати холодне світло під дією ультрафіолетових променів. Органічне забруднення є причиною виникнення дефектів зварних і клейових з’єднань, а також декоративного та захисного покриттів. Потенційних джерел органічного забруднення велика кількість, наприклад, це можуть бути залишки мастила, забруднене повітря з системи вентиляції або навіть жирові виділення шкіри людини.

У дипломному проекті було проведено моделювання та розрахунок оптичної системи приладу, розроблено функціональну та електричну схему і складальне креслення приладу.

Керівник: ст.вик., к.т.н. Муравйов О.В.

Повний текст проекту (.pdf)

Повний перелік дипломних робіт

Список використаної літератури

  1. Краткое пособие по контролю качества сварных соединений / Троицкий В. А. — Киев, Феникс. — 2006. - 320 с.
  2. Клеи и герметики /Давид Алексеевич Кардашов. — М: Химия, 1964. — 495с.
  3. Александров, В.Г. Справочник авиационного инженера /В.Г. Александров, В.В. Мырцымов, С.П. Ивлев, и др. — Изд-во "Транспорт", 1973. — 400с.
  4. SITA Process Solutions. – Режим доступу URL: https://www.sita-process.com. – 15.04.2019.
  5. Рекомендации по очистке поверхности от кремний-содержащих загрязнений [Электронный ресурс] / Эдвард М. Петри. — Электрон. журн. — Мир гальваники, 2014. — Режим доступа: http://mirgalvaniki.ru/articles/view/5
  6. Аметистов, Е.В. Тепло- и массообмен. Теплотехнический эксперимент: Справочник /Е.В. Аметистов, В.А. Григорьев, Б. Т. Емцев и др.; Под общ. ред. В. А. Григорьева и В. М. Зорина. — М: Энергоиздат, 1982. — 512с.
  7. Оптическая биомедицинская диагностика. Перевод под ред. В.В. Тучина; Том 1. – М.: ФИЗМАТЛИТ, 2006. – 560 с.
  8. Лакович Дж. Основы флуоресцентной спектроскопии: Пер. с англ. / под ред. М.Г.Кузьмина. — М.: Мир,1986. —496 с.
  9. Люминесценция и люминесцентные методы анализа. – Режим доступу URL:http://www.chemanalytica.com/book/novyy_spravochnik_khimika_i_tekhnologa/04_analiticheskaya_khimiya_chast_III/4022.
  10. Д.В. Сторожик Контроль органічного забруднення поверхні методом флуоресценції // Збірник праць XII науково-практичної конференції студентів, аспірантів та молодих вчених "Погляд у майбутнє приладобудування". - Київ: 2019. - С. 400-402.
  11. Морозов М. А. Современная лазерная дальнометрия / М. А. Морозов, А. В. Муравьёв // Новые направления развития приборостроения: материалы 9-й международной научно-технической конференции молодых ученых и студентов, 20-22 апреля. – Минск, Беларусь, 2016. – с. 38.
  12. Крутоус, Е.Б. Техника мойки изделий в машиностроении /Е.Б. Крутоус, М.И. Некрич. — Изд. 2-е, перераб. и доп. — М: "Машиностроение", 1969. — 240с.
  13. Fluorescence Quantum Yields of Natural Organic Matter and Organic Compounds: Implications for the Fluorescence-based Interpretation of Organic Matter Composition [Электронный ресурс] / Urban J. Wünsch, Kathleen R. Murphy, Colin A. Stedmon. — Электрон. журн. — Frontiers in Marine Science, 2015. — Режим доступа: https://www.researchgate.net/publication/283725103_Fluorescence_Quantum_Yields_of_Natural_Organic_Matter_and_Organic_Compounds_Implications_for_the_Fluorescence-based_Interpretation_of_Organic_Matter_Composition
  14. Silicon PN Photodiode BPW21R. — Heilbronn, Germany: Vishay Semiconductor GmbH, 1999. — 5с.
  15. Методические указания для выполнения компьютерного практикума по дисциплине «Основы оптического неразрушающего контроля» для студентов приборостроительного факультета направления подготовки 6.051003 «Приборостроение» /Муравьёв Александр Владимирович. — Киев: НТУУ «КПИ им. Игоря Сикорского», 2016. — 45с.
  16. Precision Instrumentation Amplifier AD8221. — Norwood, MA 02062-9106, U.S.A: Analog Devices, Inc, 2011. — 24с.
  17. Low-Power AVR 8-bit Microcontroller Data Sheet Summary ATmega8A. — Arizona: Microchip Technology Inc, 2018. — 27с.

ПСНК КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2017