Метрологія, інформаційно-вимірювальні технології та системи (МІВТС-2017), 24-25 жовтня 2017 г.

24october17 2Запрошуємо взяти участь в 6-й Міжнародній науково-технічній конференції “Метрологія, інформаційно-вимірювальні технології та  системи” (МІВТС-2017), яка відбудеться  24-25 жовтня 2017 г. на базі Національного наукового центру «Інститут метрології».

Приблизне коло питань, що будуть обговорюватися:
•    Теоретичні основи метрології;
•    Основні елементи простежуваності вимірювань;
•    Законодавча метрологія та міжнародне співробітництво;
•    Метрологічне забезпечення інформаційно-вимірювальних систем;
•    Сучасні технології різних видів вимірювань;
•    Навчання у галузі метрології, стандартизації, сертифікації, оцінювання якості.

 На початок конференції буде опубліковано тези доповідей на російський, українській  або англійській мовах об’ємом 1-2 стор. (див. правила оформлення тезисів). Вартість опублікування доповіді – 50 грн. за сторінку.
Найбільш актуальні доповіді з числа обговорених на конференції згодом будуть безкоштовно опубліковані в науково-технічному журналі «Український метрологічний журнал», який включено в “Перелік ВАК України”, наукометричну базу даних «Google Scholar». Опублікованим статтям буде присвоєно індекс DOI.
Тексти тез разом з відомостями про авторів (анкета-заявка) необхідно відправити до  15 жовтня 2017 р. в електронному вигляді на адресу Ця електронна адреса захищена від спам-ботів. Вам потрібно увімкнути JavaScript, щоб побачити її. (див. правила оформлення). Робочі мови конференції: російська, українська, англійська.

За всіма питаннями звертатися до Голови Оргкомітету МІВТС-2017:
Захаров Ігор Петрович, e-mail: Ця електронна адреса захищена від спам-ботів. Вам потрібно увімкнути JavaScript, щоб побачити її.
тел.: +38-057-7512584, +38-067-5783981.

Інформаційне повідомлення

ПСНК КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2017